适用范围：
中功率放大管、芯片、各种无源器件等微波器件的高频参数精确测试。
结构特点：
主体结构全用黄铜加工，表面镀金而成；
采用丝杆螺纹式旋紧，滑块平稳运行；
滑块与元件载片采用丝锥定位，元件载片定位精确；
元件定位方便可靠，用弹性压片压紧，操作方便；
通用性强，测试精确，不同的封装元件只需更换连接载片及校准件。
校准件：
TRL校准件，可以通过反射、延时、传输将仪表的测试参考面准确的校准到待测件的两端。
不同的封装元件，校准件只需要更改其宽度即可。
载 片：
AFX-100B的通用型很强，不同的封装元件更改载片的宽度与封装元件宽度一致即可。
另AFX-100B的中央滑块加上了散热设计，可以承受更大的功率。
主要性能：
接头类型：3.5mm
频率范围：DC～26.5G
特性阻抗：50欧
寿 命：20000次
校准方式：TRL校准
功率范围：小于70W
AFX100系列微波测试夹具技术规格
参 数
|
规 格
|
备注
|
|
AFX-100A
|
AFX-100B
|
AFX-100C
|
|
机械特性
|
外形尺寸
|
177mmX
102mmX65mm
|
177mmX
102mmX65mm
|
177mmX
102mmX95mm
|
仅供参考
|
|
材 料
|
黄 铜
|
黄 铜
|
黄 铜
|
|
|
表面处理
|
镀 金
|
镀 金
|
镀 金
|
|
|
重 量
|
约2 Kg
|
约2 Kg
|
约2 Kg
|
仅供参考
|
|
电气特性
|
驻 波
|
1.35
|
1.35
|
1.35
|
传输/延时校准件
|
|
≥20：1
|
≥20：1
|
≥20：1
|
反射校准件
|
|
插损（dB）
|
0.7
|
0.7
|
0.7
|
输入/输出至管脚
|
|
校准精度
|
1‰
|
1‰
|
1‰
|
|
